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Intégration des vulnérabilités et variabilités dans l'analyse de sûreté des systèmes
Auteurs :
Bassem Chieb,
Vincent Idasiak,
Frédéric KratzLes systèmes industriels sont devenus une intégration de composants hardwares et softwares interconnectés, toujours plus reconfigurables et interdépendants. Les charges d'analyses de ses systèmes croissent énormément à mesure que l'on utilise ses nouveaux composants. Du point de vue de la maîtrise des risques, trois phénomènes liés à ces nouveaux systèmes nécessitent de nouvelles mesures. Nous identifions donc, les problèmes posés par l'utilisation de ligne de produits, les systèmes cyber-physiques et les méthodes itératives de conception. Un des points communs est l'absence d'outils d'analyse adéquats afin de mener une analyse de fiabilité ou de sûreté ; soit que ces outils ne puissent pas prendre en compte efficacement l'aspect itératif des démarches et/ou de l'évolution des systèmes, soit que l'introduction de nouvelles vulnérabilités est compliquée, voire impossible. Notre objectif est de fournir un support à des analyses de type AMDEC (AEEL, FMVEA) permettant de conduire une analyse des lignes de produits ou des systèmes cybers-physiques durant leur phase de conception ou de modifications. Ces AMDEC générées automatiquement à partir de modèles permettent la réutilisation des concepts de sûreté de fonctionnement grâce à la capitalisation des connaissances lors des différentes phases de modifications du système analysé ou tout simplement afin de prendre en compte de nouvelles menaces.
Article édité dans l’ouvrage
Auteur :
Collectif Envirorisk
Contributeurs :
Michel Lebey,
Eloi Lambert,
Hugues Besnard,
A. Cablé,
K. Chetehouna,
N. Gascoin,
K. V. Herpe,
M. Kadoche,
Nathan Grange,
K. Chetehouna,
N. Gascoin,
L. Lemée,
S. Senave,
I. Reynaud,
L. Courty,
B. Manescau,
B. Coudour,
J.-P. Garo,
H. Y. Wang,
E. Botrel,
M. Fournier,
M. Michaud,
C. de Izarra,
K. Chetehouna,
B. Manescau,
M. Gralepois,
S. Servain,
M. Bonnefond,
M. Fournier,
M. Gralepois,
M. Taabni,
N. Anciaux,
Sabine Frittella,
Benjamin Nguyen,
Guillaume Scerri,
Bassem Chieb,
Vincent Idasiak,
Frédéric Kratz,
J.-C. Deneuville,
Jean-Claude Fondras,
Marie-Élisabeth Labat,
Christian Toinard,
Jean-Luc Hanus,
Loubna Bouazaoui ,
Ludovic Blanc,
Sara Santana-Herrera,
Benjamin Le Roux,
Christophe Renaud,
Ayda Halouani,
Khalil Dammak,
Benoît Magnain,
Baptiste Bergeot,
Hervé Mathis,
Stéphane Villalonga,
Sébastien Berger,
Éric Florentin,
Benjamin Le Roux,
Christophe Renaud,
Jean-Luc Hanus,
Pierre Legrand,
Steven Kerampran,
Michel Arrigoni,
Yuzhu Wang,
Roger Serra
Collection :
Envirorisk
Rubrique :
Sciences
Publics concernés :
Spécialistes,
Ingénieurs
Mots clés :
Environnement ,
Risques,
sécurité
Référence : 156700